直讀光譜SPECTRO LAB S在（zài）矽青銅中雜質元素的應用

矽青銅是銅合金（jīn）青銅中的特（tè）定牌號，其（qí）包括Qsi3-1 ，Qsil -3 ，Qsi0.6-2 ，其要求（qiú）分（fèn）析檢測九（jiǔ）個元素，由於（yú）分析元素多，標準含量低（dī），使得分析（xī）檢測難度較大，根（gēn）據光電直（zhí）讀（dú）光譜儀的特（tè）點，製作了矽青銅的工作曲線和分析（xī）程序，並進行了比較，滿足了矽青銅（tóng）的分析要求，檢測結果準確可（kě）靠，保證了分析檢測的及時、快速、準確，節省了大量的人力和物力。

儀器
直讀光譜（pǔ）分析儀SPECTRO LAB S（德國斯派克（kè）公司）

實驗部分

國家標準樣品Qsi313，成分如下表。

比對校核

取（qǔ）矽（guī）青銅標樣Qsi1-3進行分析，每個樣品分析三次取平均值，與（yǔ）化學（xué）定值結果比對，列出部分代表性元素，具體結果見表（biǎo）。

從表中數據可以看出，其分析（xī）結果與化學定值一致性良好，差值（zhí）小於允許差，說明該分析方法可靠，準確度高。

精密度

取（qǔ）已定值的國家標準樣（yàng）品（pǐn）Qsi313-923-11， 進行精密（mì）度試驗，連續激發12次，計算平（píng）均值、標準偏差、相對偏差，結（jié）果見（jiàn）表。

精密度檢驗（%）

從表（biǎo）數據中可以（yǐ）看出，各元素的RSD值（zhí）均在0.87%~8.39%，精密（mì）度非常高，完全滿足標準要求。

通過試驗，證明該分析方法簡便快速，精密度和準確度高，能夠滿足矽青銅在日常分析檢測的要求，在日常分析檢（jiǎn）測中，隻要（yào）保證試（shì）樣麵符合分析要求，就能夠保證分析的準確性。

40多年來，SPECTRO全心投入開發出世界先進的發射光譜儀。今天，斯派克公司完美引（yǐn）入CMOS探（tàn）測器技術，徹底改變了高端電弧/火花分析技（jì）術的走向及未來。在所有（yǒu）同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，低元素檢測限，同時（shí）也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的（de）靈活（huó）性。

SPECTRO LAB S 擁有世界上第一個基於CMOS的探測器（qì）的記錄係統，該係統非常適合於高端金屬分析。從微量元素（sù）到（dào）多（duō）基體應用，它提供了快速、高度準確、異常（cháng）靈（líng）活的（de）技術選擇。

樣品的分析速度是儀器先進（jìn）性的重要標誌，SPECTRO LAB S的推出（chū）完全滿足了金屬分析市場對速度的需求。例如（rú）：當檢測低（dī）合金鋼時，它可（kě）以在20秒或更短的時間內提（tí）供高準確度的測量值！

從技（jì）術指（zhǐ）標和實際使用效（xiào）果看（kàn），SPECTRO LAB S均是適合金屬冶煉廠的測（cè）試需求。對於（yú）金屬再加工生產商、汽車和航空航天製造商、以及成品（pǐn）和半成（chéng）品、電子產（chǎn）品、半導體等製造（zào）商來說，可以給出的解決（jué）方案（àn）同樣出色（sè）。

創新點

1、獨立雙光室，確保所（suǒ）有分析譜線都獲得很高分（fèn）辨率。 SPECTROLAB S 配備兩套完整的專用光學係統（tǒng）。一個（gè）光室精（jīng）確測量波長從120到240納米（nm）;另一個光（guāng）室，波長範圍從210到800納米（nm）。 兩個光室都采用（yòng）先進的CMOS檢測器，具（jù）備恒溫裝（zhuāng）置和壓力補償（cháng）功能。

2、等離子發生器數字（zì）光源和點火板可靠的新型高能LDMOS等（děng）離子發生器光源，為SPECTROLAB S 輸出高穩定的火花放電，頻（pín）率高達1000 Hz，隻需要很短的時間即可完（wán）成測試，例如（rú）分析低合金鋼小於 20 秒。該係統還允許特定應用的火花參數設置，以優（yōu）化分析性能。

3、精密氬氣控製係統 SPECTROLAB S 采用全新（xīn）程控流量。軟件根據分析程序精密設置氬氣流量。節約了氬氣消耗。氬氣閥體直（zhí）接耦合到火花台，無需管道連接，避免漏氣。

4、火花台清理間隔大大延長（zhǎng） 堅固的陶瓷內芯避免積塵粘附。流暢的氣路（lù）設計確（què）保了很少的粉塵殘留（使得清理間隔時間延長了（le）8倍）；對於大（dà）樣品量輸出的全自（zì）動光譜儀係（xì）統尤（yóu）為重要。

5、快速讀出（chū）係統 斯派克的GigE創新讀出係統確保海量數據的極（jí）速處理，從而（ér）支持卓越的儀器性能（néng）表現。實（shí）現了獨特的全光譜範圍譜圖記錄。

6、低檢出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術，在關鍵（jiàn）元（yuán）素的檢測限方麵，超越光電倍增（zēng）管技術的性能。通過配置參比通道，工作（zuò）曲線可以獲得很（hěn）好優（yōu）化（huà），可以快速定量（liàng）分析ppm量級的高純金屬或合金中的痕量元素。

7、元（yuán）素在低合金鋼中平均檢（jiǎn）測（cè）限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍。

8、單一標樣實現整個係統的標準化（huà）, 此項每天（tiān）可節省30分鍾工作時間。