一文秒懂理學ZSX PrimusIV波長（zhǎng）色散X射線光譜儀特點

羞羞视频在线科學專業代理日本理學（xué）ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜（pǔ）儀，波長色散型光譜儀可解決（jué）多種不同類型（xíng）樣品金屬元素分析，有效快速幫助各類行加工、生產。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜（pǔ）儀這（zhè）款設備（bèi）的特點。

硬件最安全、軟件最（zuì）安心、維護最方便

萬一的失誤（wù）導致儀器損（sǔn）壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器（qì）ZSX PrimusIV設計（jì）為即便粉末樣品發生粉末飛散也不會（huì）損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設計為（wéi）防止操作失誤的用戶分級管理方（fāng）式。

即便粉末（mò）樣品（pǐn）鬆散下落也不會汙染光學係統-上照射方式

因為采用上照射方式粉（fěn）末壓片樣品的粉末飛散、下落也不會貴給光學係統造（zào）成影響。也不需要粘貼樣品保護薄膜。

新技術的采用（yòng）和精細的設（shè）計-奠（diàn）定

ZSX PrimusIV的各組件都使用著最先端的要素技術，加之微細處因此，無論是對（duì）要求高（gāo）精細的研究，還是對大量測量的日常質量。

液體樣（yàng）品分析用真空封擋（dǎng）係統

在樣品室和分析室之間以隔壁封擋方式自動置換氦氣，大幅度縮短了由真空向氦（hài）氣光路（lù）的置換（huàn）時間。

液體樣品盒自動識別機構

分析液體樣品時，樣品室需要置（zhì）換成He氣氛圍。通過液體樣品盒自動識別（bié）機構可以避免液體樣品盒在真空狀態下進入樣品室（shì），從而放心地測量（liàng）液體樣品。

樣品盒位（wèi）置一目了然

樣品台正麵和右側麵均為透（tòu）明窗，所（suǒ）以坐在計算機前操（cāo）作儀（yí）器的同時可以一-目了然地確認分析樣品的位置。

不需要PR氣體的S-PCLE

可以選配測量輕元素的氣體封閉型正比計（jì）數器(S-PCLE)。方便在難以購置PR氣體的地方使用。注:使（shǐ）用F-PC檢測器時，必須使用檢測器用氣體（tǐ）(PR氣體)

獨特的光學係統-減少樣品表麵不平整的影響
被測量樣品表麵凹凸不平（píng）的話，分析麵與X光管的距離便有差異，這樣的距離差（chà）異會帶（dài）來強度變化（huà）。理學儀器的光學係統可以減少由於距離不同引起的X光強的變化。

玻璃熔片時由於坩堝之間底部形狀的差異造成的影響、粉（fěn）末壓片時（shí）樣品（pǐn）表麵凹凸的影響等都可通過此光學（xué）係統予（yǔ）以校準,得到更加準確的分析。

高靈敏度彎晶

可配置PET彎晶和Ge彎晶。高靈敏度Ge彎晶與平晶相比，對P、S的靈敏度提高了30%;高靈敏度PRT彎晶與（yǔ）平晶相比，Al、Si的靈敏度提高了30%。也可以使用在SQX程序中，提高無標樣（yàng）定量分析的靈敏度（dù）。

一次X射線濾光片

設置在X射線光管（guǎn）和樣品之間，用於減輕X射線光（guāng）管發（fā）出的連續X射線或特征X射線對分析譜線的妨礙。

散射線SQX
使用散射線強度來（lái）推定樣品中非測量成分的超輕元素(C、H、O、N)的影響,對汙泥、水垢等含有非測量（liàng）成分的樣品,不做非測量成分設定便可進行更加準（zhǔn）確的近似定量分析。