日本理學波長色（sè）散X射線（xiàn）熒光光譜儀 ZSX Primus IV

日（rì）本（běn）理學波長（zhǎng）色散X射（shè）線熒光光譜（pǔ）儀，快速定（dìng）量元素分析的高性能WDXRF！上照射式波長色散X射線熒光光譜儀ZSXPrimus IV，理學Primus IV提（tí）供（gòng）主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的最低標準的廣泛樣品類型。高（gāo）度可靠性的（de）上照射式（shì）光學（xué）係統ZSXPrimus IV具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由於......

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀，快速定量（liàng）元素分析的高性能WDXRF！

上照射（shè）式（shì）波長色（sè）散X射線（xiàn）熒光光譜儀

ZSX Primus IV
理學ZSX Primus III+提供主（zhǔ）要（yào）和次要（yào）原子元素的（de）快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的最低標準（zhǔn）的廣泛樣品類型。
高度可靠性的上（shàng）照射式光學係統
ZSX Primus IV具（jù）有場新的上照射（shè）式光學配置。用（yòng）戶再也（yě）不用擔心由於維護（hù）樣品室導致的路徑汙染或停止時間。上照射式幾何結構消除了清掃的擔心並增加（jiā）了時間。

高精度樣（yàng）品定位
高精度樣品定位（wèi）確保了樣品表麵與X設（shè）吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus IV使用一個獨（dú）特的光學配置執行高精度分析，用於減少由於（yú）例如電（diàn）熔銖和壓片等樣品中的非平（píng）麵表（biǎo）麵導致的錯誤。

SQX 基（jī）本參數軟件與EZ掃描軟件
用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設置（zhì）即可分析位置樣品（pǐn）。這個節省時間的特征僅（jǐn）需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件，快速提供最準確的XRF結果。SQX能（néng）夠自動校（xiào）正包（bāo）括（kuò）線重疊（dié）的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕（qīng）、超輕元素）、變化的環境、雜（zá）質和不同的樣品尺寸校正輔助的激（jī）發效應。使用匹配庫和完美（měi）的掃描分析程序提高準確性。

上（shàng）照射式波長色散（sàn）X射線熒光光譜儀：
從（cóng）O到U的元素分析
上照射式（shì）光學最小化汙染
小占地（dì）麵積（jī）節（jiē）省實驗室（shì）空（kōng）間
高精度樣品（pǐn）定位
特殊光學（xué）減少由於彎曲的樣品表麵造（zào）成（chéng）的錯誤
統計過程控製（SPC）的軟件工具
優化抽空和真空泄露率改善吞吐量

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