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什麽類型光(guāng)譜儀可(kě)以檢測珠寶玉石?

返回列表 來源: 羞羞视频在线 發布日期: 2021.05.20


珠寶玉石(shí)檢測中的X熒光(guāng)光譜法


當下珠寶玉(yù)石行業, X熒(yíng)光(guāng)光譜法(fǎ)是珠寶玉石鑒定的主要手段之一。X射線熒光光譜技術在樣品的(de)主要成分無損定量和定性分析上得到(dào)廣泛應用,成為貴金屬飾品檢測領域的重(chóng)要手段(duàn)。X射線作為一種(zhǒng)電磁輻射,波長介於紫外線和射線之間,這種電磁輻射波長沒有嚴格的界限,隨著探測技術的發展,用X射線熒光光譜進行定量(liàng)分析,已經(jīng)成為了元素分析的重要手段(duàn)。X熒光光譜法在當今珠寶玉石行(háng)業檢測中得到了廣泛應用,這一方法對寶石不會造成損傷,同時也能夠提高檢測(cè)效率。使用X射線照射被測(cè)物,被測物激發(fā)出不同波長的熒光X射線,用儀器對波長不同的X射線(xiàn)進行接收分離,從而判斷其(qí)中的組(zǔ)成元素,對(duì)組成元素含量具體分析,檢測出珠(zhū)寶(bǎo)玉石是否是合成和有無經(jīng)過優化處理等(děng)。X熒光光譜儀利用這一原理(lǐ)進行檢測(cè),有(yǒu)能量色散型X熒光光譜(pǔ)儀(yí)、波長色散型X熒光光(guāng)譜儀(yí)之(zhī)分。

X熒光光譜法在珠寶玉石(shí)檢測中應用廣泛,其(qí)主要優勢(shì)體現在分析速度、檢測對(duì)象、分析密(mì)度等多方(fāng)麵。X射線(xiàn)在(zài)珠寶玉石檢測中不會對珠寶玉石造成損壞(huài),與其他檢測方式相比具有獨特的優勢,同時(shí)也是對(duì)檢測質量的有效(xiào)保障。X熒光光譜儀分析速度快,在整(zhěng)個珠寶玉石檢測上僅(jǐn)僅需要幾分鍾就(jiù)可以完成對一件珠(zhū)寶玉石元素含量(liàng)的檢測,檢測速度極(jí)快,在實際珠(zhū)寶檢測中體現出明(míng)顯的效率優勢。X熒光光譜技術對檢測對象的形(xíng)狀、形態等條件沒有局限性(xìng),X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測工作中不會受寶石形狀(zhuàng)、化學(xué)結(jié)合狀態等(děng)條(tiáo)件影響,適用性廣泛。X熒(yíng)光光譜技術在珠寶玉石檢測中的分析精密度極高,這是電磁輻射在珠寶玉石檢測中的優勢,這種(zhǒng)物(wù)理分析方法對檢測物中元素的化學(xué)性質分析有很高的效率,隨著現代(dài)科學技術的飛速(sù)發展,X熒光光譜技(jì)術(shù)在珠寶玉石檢測領域的應用會在泛度和深度上得到(dào)更大發展(zhǎn)。


珠寶玉石檢測


X熒光光譜(pǔ)儀在珠寶玉石檢測中的應用


X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的具體應用主(zhǔ)要有相似(sì)珠寶玉石鑒別、優化處理珠寶玉(yù)石鑒別、類質同象珠寶玉(yù)石研究等幾個方麵,同時(shí)在珠寶玉石元素的方麵(miàn),從實際檢測數據分析中可以驗證(zhèng)X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測上的可行性,這對解決傳(chuán)統檢測手段無法測出一些(xiē)珠寶玉石中的元素類別、含量等問(wèn)題上有很大幫助。

X熒光光譜技術(shù)在珠寶玉石無損檢測(cè)上的高效率(lǜ)體現在(zài)相(xiàng)似珠寶玉(yù)石(shí)的鑒定上,從珠寶玉石的元素組成上對相似珠寶玉(yù)石進行鑒定和輔助(zhù)分析(xī)。珠寶玉石原料種類(lèi)較多,存在性質相似的情況,傳統檢測手段很難有精準的檢測(cè)結果,一些原料品種(zhǒng)在(zài)外觀形態上很難(nán)區(qū)分,內部折射率和密度也(yě)極為相似,在傳(chuán)統(tǒng)檢測(cè)手(shǒu)段上存在較大難度,應用(yòng)X熒光光譜儀進行技術分析,對相似珠寶玉石的內部元素含量進行更為精確的分析,從X射線熒光光譜圖中可(kě)以很容易區分出來相似珠寶(bǎo)玉石的不同之處。這一技術在鑒別紫晶(jīng)和紫色方柱石等相似類型的寶石上有顯著的效率優勢。

X熒光光譜儀對當今珠寶玉石行業中優化處(chù)理技術下的寶石也有明顯優勢,對優化處理(lǐ)後的珠寶玉石進(jìn)行技術分析,鑒(jiàn)別天然寶石和人工合成技術下的成品,現代優化處理技術下出現的高(gāo)仿珠寶玉石成品流入珠寶玉石市場,很容易迷惑消(xiāo)費者。因此通過X熒光光譜儀對優化處理技術產生(shēng)的人工合成(chéng)品進行鑒別,能夠幫(bāng)助消費者識別優化處理珠(zhū)寶(bǎo)玉石與天然寶石。珠寶玉石中的紅寶石(shí)人工合成(chéng)製作過程中(zhōng)采用鉛玻璃填充方法,其效果與天然紅寶石相(xiàng)似性較高,X熒光光譜儀能夠分辨出兩者之間的差異性,人工合成品中(zhōng)明(míng)顯(xiǎn)的鉛元素在X熒(yíng)光光譜儀中能夠較(jiào)容易鑒別出來與天然紅寶石的細微不(bú)同(tóng)之處。寶石優(yōu)化處理技術在X熒光光譜儀應用於珠寶玉石檢測後能夠更容易鑒別出來,同時X熒光光譜儀在輔助分(fèn)析、鑒別(bié)合成翡翠、珍珠等珠寶玉石方麵也有著明顯優勢。

X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的應用還體現在類質同(tóng)象珠寶玉石方麵上,類質同象在珠寶玉石(shí)檢測中主要是晶體結構(gòu)中的離子、原(yuán)子等結(jié)構類型上的(de)線性變化現象,在這一現象的檢測研究上確定珠寶玉石中類質同象係列的名稱,能夠有效提升珠寶玉石檢測(cè)的效(xiào)率和質量,這(zhè)一過程中X熒光光譜儀的應用有著重(chóng)要(yào)作用,珠寶(bǎo)玉石中的元素分析和(hé)含量統計分析為類質同象珠寶玉石的準確性檢測體提供了有(yǒu)效的數(shù)據幫助。X熒光光譜(pǔ)儀(yí)隨著X射線熒(yíng)光光譜技術的發展不斷發展完善,在珠寶玉石鑒(jiàn)定領域依靠技術手段提高檢測的效率,不僅適用(yòng)於以上幾種珠寶玉石檢測情況,隨著未來科學技術水平的不斷提(tí)高,珠寶玉石行業(yè)的發展也會(huì)不斷出現(xiàn)新的發展方向。

日本理學波(bō)長色散(sàn)X射線熒光光譜儀


日本理學波長色散X射線熒(yíng)光光譜儀
ZSX Primus IV

1.高度可靠性(xìng)的上照射式光學係統
ZSX Primus IV具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由於(yú)維護樣品室導致的路徑汙染或停止時間。上照射式幾何(hé)結構消除了清掃的擔心並增加了(le)時間。

2.高精度樣品定位
高精(jīng)度樣品定位確保了樣(yàng)品表麵與X設吸納(nà)管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常(cháng)重要。ZSX Primus IV使用一個獨(dú)特的(de)光學配置執行高精度分析,用於減少(shǎo)由於例如電熔銖和壓片等樣品中的非平麵表麵導致的錯誤。

3.SQX 基本(běn)參數軟件與EZ掃描軟件

用戶使用(yòng)EZ掃描(miáo)軟件可以在無需任何事先設置即(jí)可分析位置樣品。這個節省時間的特(tè)征僅需點擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,快速提供最準確的XRF結果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線(xiàn)重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電(diàn)子(輕、超(chāo)輕元素)、變化的環境(jìng)、雜質和不同的(de)樣品尺寸(cùn)校正輔助的激發效應。使用匹配庫和完美(měi)的掃描分析程序(xù)提高準確性。


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