X射線熒光光譜儀對硫化銅（tóng）礦的（de）樣（yàng）品分（fèn）析應用

X射（shè）線（xiàn）熒光光譜分析技（jì）術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而（ér）進行的（de）元素分析方法（fǎ），采用探測器檢測特征X射線（xiàn）熒光的能量和強度，從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、製樣（yàng）簡單、重現（xiàn）性好、準確（què）度高、非（fēi）破壞（huài）性和對環境無汙染等特點，被廣泛應用於多領域（yù）的樣品分析（xī）。硫化（huà）銅礦石作為國家戰略礦（kuàng）石之一，對（duì）其快速準（zhǔn）確分析（xī）在開發利用方麵具（jù）有（yǒu）重（chóng）要意義（yì）。

目前，礦物、礦石樣（yàng）品傳（chuán）統分（fèn）析周期長，操作繁瑣，不適合日常快（kuài）速（sù）分（fèn）析的要求。開（kāi）發了X射線熒（yíng）光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素（sù）的分析方法，實驗采用（yòng）玻璃熔融法（fǎ）製備硫（liú）化銅礦樣品，在600℃下（xià）預氧化20min，使低價態的硫轉（zhuǎn）變為硫酸鹽，不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕，而且可以更好的測定以Cu和（hé）S為主的主量元素的含量。該方法為X射線熒光分析（xī）法在硫化礦樣品（pǐn）分析領域的拓展提供了（le）一套可借（jiè）鑒的分析程序，有一定的實際應用價值。隨著分析技術由整體分析向微區分析發展，地學研究由宏（hóng）觀表征向微觀信息獲取（qǔ）的發展，岩礦的分析研究已經由宏觀深入到更微觀的領域。 

波長色散X射線熒光光（guāng）譜儀 

目前實驗室常規使用的微區分析技術包括電（diàn）子探針、激光燒蝕等離子體質譜和各類電子顯微鏡等。微區X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術作為一種基於普通X射線熒光的無損分析技術，是X射線（xiàn）光譜學領域的重要分支，可（kě）實現微米級微小區域內樣品中多元素定性或定量分（fèn）析，成為獲取樣品微區（qū）結構元素空間線掃描、麵掃描分布及時序（xù）性信（xìn）息（xī）的有力工具。使用了台式能量色散X射線熒光儀，對氧（yǎng）化物組合標樣和礦物光片點掃（sǎo）描，對31個礦物光片和（hé）塗有防曬（shài）霜（shuāng）的指紋（wén）樣品進行麵掃描，5個金屬薄膜片點掃描（miáo）。當樣品與聚焦（jiāo）點距離變化在-20μm～20μm時，激發出的Fe、Cu、Zn、S的強度值最大。

（日本理學波長色散X射線熒光光譜儀）

X射線熒光光譜分析測定金（jīn）屬膜層的厚度，其測量值與實際值偏差不大。該儀（yí）器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像，在玻（bō）璃基底上獲取的指紋紋理更清晰。微（wēi）區X射線熒光光譜無損分析（xī）可得到類似切割板的多（duō）元素分布（bù）圖，是分析元素（sù）分（fèn）布規律的（de）一（yī）種較快的方法，能快速測出金屬膜層的厚度，高效率提取指紋。

通過（guò）蘭坪盆地鉛鋅（xīn）銅多金屬成礦區帶典型（xíng）礦山地（dì）區1:50000地質調查，采（cǎi）集雲龍縣（xiàn）的山坡、林地、草地等的土壤樣品400多件，用波（bō）長色散-能量色散（sàn）複合型X射（shè）線熒光（guāng）光譜儀測（cè）量土壤重金屬含量（liàng）。得到土壤中重金屬元素的平（píng）均值、中位值等，發現Zn和Pb元素（sù）含量的最大值（zhí）點在同一位（wèi）置點，在河庫旁幹（gàn）涸處草地。Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd元（yuán）素含量最大值的采樣點（diǎn）均在水流附（fù）近（jìn），其中（zhōng）Cd元素（sù）的最大值點位於沘江附近，Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd等元素可能通（tōng）過水流遷移（yí）。通過研究采礦區不同（tóng）類型土壤表層中重元素的含量和分（fèn）布特征，為調查礦區及周邊水文地質條件、礦山開采帶（dài）來的（de）主要環境地質問題提供依據。