日本理學波長色散X射（shè）線熒光光譜儀 ZSX Primus III+

日本理學波長色散X射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能（néng）WDXRF！上照射式波長色散X射線熒（yíng）光光譜儀ZSXPrimuIII+理學ZSXPrimuIII+提供主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的最低標準的廣泛樣品類型。高度可靠性（xìng）的上（shàng）照射式光學係統ZSXPrimuIII+具（jù）有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由於......

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日本理學波長色散X射線熒光（guāng）光譜儀（yí），快速定量元素分析的高性能WDXRF！

上照射（shè）式波長色散X射線熒光光譜儀（yí）

ZSX Primus III+
理學（xué）ZSX Primus III+提（tí）供主要和次要原（yuán）子元素（sù）的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的最低標準的廣泛樣品類型。
高度可靠（kào）性的上照射式光（guāng）學係統
ZSX Primus III+具有場新的上（shàng）照射式光學配置。用戶再也不用擔心由於維護樣品室導致的路（lù）徑汙染或停止時間。上照射式幾何結構消除（chú）了清（qīng）掃的擔（dān）心並增加了時間。

高精度樣品定位
高精（jīng）度（dù）樣品定位確保了樣品表麵與X設吸納管之間的距離（lí）恒定。這對例（lì）如（rú）合金分析等需（xū）要高精（jīng）度的應用非常（cháng）重要。ZSX Primus III+使（shǐ）用一個獨特的光學配置執行高精度分析，用於減少由於例如（rú）電熔銖和壓（yā）片等樣（yàng）品中的（de）非平麵表麵導致的錯誤。

SQX 基本參數軟件與EZ掃描軟（ruǎn）件
用戶使用EZ掃描（miáo）軟件可以在無（wú）需任（rèn）何事先設置即（jí）可（kě）分析（xī）位置樣品。這個節省時間的特（tè）征僅（jǐn）需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本（běn）參數軟件（jiàn），快速提（tí）供最準確的XRF結果。SQX能夠自動校正（zhèng）包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還（hái）可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環境、雜質和不同的樣（yàng）品尺寸（cùn）校正（zhèng）輔助（zhù）的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準（zhǔn）確性。

上（shàng）照射式波長色散X射線熒光光譜儀：
從O到U的元素（sù）分析
上照射式光學最小化（huà）汙染
小（xiǎo）占地麵積節省實（shí）驗室空（kōng）間
高精度樣品定位
特殊光學減少（shǎo）由於彎曲的樣（yàng）品表麵造成的錯誤
統（tǒng）計（jì）過程控製（SPC）的軟件工（gōng）具
優化抽空（kōng）和真空泄露率改善吞吐量

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