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熱門關鍵詞： X射（shè）線熒光（guāng）光譜儀 手持式光譜（pǔ）儀 便攜式（shì）光譜儀 直讀（dú）光譜儀 德國斯派克光譜儀

日立測厚儀

FT160台式XRF適用於電子元件鍍層分析（xī）

FT160台式XRF適用於電子元件鍍層分析

FT160台式（shì）XRF鍍層（céng）測厚儀，旨（zhǐ）在測量（liàng）當今PCB、半導體和微連接器上的微小部件（jiàn）。準確、快速地測量微小部件的能力有助於提高生產率並避免（miǎn）代價高昂的返工或元件報廢。
FT230：具有高級功能的微焦（jiāo）斑 XRF 用於大批量鍍層分析

FT230：具有高（gāo）級功能的微焦斑 XRF 用於大批量鍍（dù）層分析

FT230的每個設（shè）計元素均旨在減少完成（chéng）XRF測量所需的時間，有助於更快地根據測（cè）試結果采取（qǔ）行動，減少浪費並提（tí）高工作效率。從根本上說，我們讓操作人員與儀器（qì）的交互（hù）變得越（yuè）來越簡單。
日（rì）立CMI511手持式（shì）帶溫度補償孔銅鍍層測厚儀

日立CMI511手持（chí）式帶（dài）溫度補償孔銅鍍層測厚（hòu）儀

CMI511帶來獨有的溫度補償功能銅箔厚度測量，該（gāi）功能可減少（shǎo）廢料並避免昂貴的返工。該儀表的自（zì）動溫度校（xiào）正可實現極高的準確性，即使對已經從電鍍槽中提起的板（bǎn）材，也能準確（què）測量。
日（rì）立手持式CMI165測厚儀適用於溫度補償（cháng）的表麵測量和銅線銅層厚度測量（liàng）

日立手（shǒu）持式CMI165測厚儀適用於溫度補償的（de）表（biǎo）麵測量和銅線銅層厚度測量

CMI165可對溫度實（shí）施補償，在不考慮銅溫（wēn）度的前提下獲得準確的檢驗結果。
日立CMI760係列常規（guī）金屬測厚儀

日立CMI760係列常規（guī）金屬測厚儀

CMI760接受多種探針類型，可滿（mǎn）足幾乎任何PCB應用，包括（kuò）表麵銅和孔銅應用。
台式XRF鍍層測厚儀

日（rì）立FT110A台式XRF鍍層測厚儀，鋅層測厚儀

FT110A是一款台式XRF分析儀，旨在應對生產中鍍層分析的挑戰。強大（dà）的（de）X射線熒光技術與自動定位功能相結合，有助於提高電鍍車間的生產力，同時確（què）保組件符合（hé）嚴苛標準。
日立X-Strata920 鍍層測厚儀

日立X-Strata920 鍍層測厚儀，台式（shì）XRF鍍層測厚儀

X-Strata920是一款（kuǎn）高精度台式XRF鍍層測厚儀，具有多種（zhǒng）選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀（yí）非常適合測量各種基材上的塗層，適合用（yòng）於確定產品（pǐn）質量（liàng）的電子產品、連接器（qì）、裝飾品和珠寶（bǎo）分析

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