X射線熒光分析技術無損檢測（cè）貴金屬首飾（shì）含量中（zhōng）的技巧

隨著國內黃（huáng）金交易市場的全麵開放，無損驗貨接踵（zhǒng）而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。

一、 x射線熒光分析基本原理（lǐ）

所謂熒光，就是在光的照射下（xià）發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線（xiàn）照射下發出的x射線，它包含了被（bèi）分析樣品化學組成的信息，通過對上述x射線熒光的分析，確定被測樣品中各組份含量的儀器就是x射線熒光分析儀。用x射線熒光分（fèn）析儀測（cè）量貴金屬首飾含量是一種不接觸、非破壞的測試方（fāng）法。這種方法（fǎ）是將一（yī）束初級x射線照射被分析的樣品，使樣品中的每種元素的原子都發射（shè）出各自特（tè）征的x射線熒光。於每（měi）一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發後躍遷時放出的x射線的能量也是特定的，稱之為特征x射線。通過測（cè）定特征x射（shè）線的能量，便可以確定相應元素的（de）存在，而特征x射線的強弱(或者說x射線光子（zǐ）多少)則代表該元素的含量。

二、x射線熒光分析儀的分類

1.根據分（fèn）光方（fāng）式的不（bú）同，x射（shè）線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通（tōng）常所說的能譜儀和波譜儀。通過測定熒光x射線的能（néng）量實現對被測樣品分析的方式（shì）稱之為能量色散x射線（xiàn）熒光（guāng）分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光x射線的波長實（shí）現對被測樣品分（fèn）析的方式稱之為波（bō）長色散x射（shè）線熒光分析，相應的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。

2.根據（jù）激發方式的不同，x射線熒（yíng）光分析可分為源激發和管激發兩種：用放射性同位素源發出的x射線作為原級x射線的x射線熒光分析儀稱為源激發儀器（qì），其特點是體積較（jiào）小、結構簡（jiǎn）單，價格低（dī）廉；用x射線發生器(又稱x光管)產生原級x射線的x射線熒光分（fèn）析儀稱為管激發儀器，特點是體（tǐ）積較大、輸（shū）出強度高且可（kě）調，價格也較昂貴。以上我們介紹了x射線熒（yíng）光分析儀的基本原理及其主要類（lèi）型，下麵我（wǒ）們著重闡述一下用x射線熒光分析技術無損（sǔn）檢測貴金屬首飾含量所應注意避免的誤區。

誤區1：強調“熒光”

過分（fèn）迷信依賴大型儀器。許多用戶錯誤地認為隻有用x光（guāng）管作為激發（fā）源的管激發（fā）儀器才是x熒光儀，一味地強調所謂“熒光”。事實上，如前所述，無論是采用x光管還（hái）是采用放射性同位素（sù）作為激發源，隻要是由x射線激發，通過測定（dìng）被測樣品發出的熒（yíng）光x射線得（dé）出其化學成分及含量的儀器，都是x熒（yíng）光分析儀。

誤區2：重（chóng）硬件輕軟件和技術

任何一種分析儀器在某一領域的成功應用都是硬件、軟件和（hé）分析技術有機結合的結果，三者缺一不可。毫無疑問（wèn），硬件是基礎，但硬件並不能決定一切。從應用的角度來講，硬件隻（zhī）有通（tōng）過（guò）軟件（jiàn）才能充分發揮作用，而分析技（jì）術涉及儀器應用的（de）每一個環節。

誤區3：重價格輕服務

價格當然是選購（gòu）商品的重要因素，但不應當是（shì）決定性因素。分析儀（yí）器各部件質（zhì）量及其價格懸殊極大，並（bìng）且直接決定了儀器的售價，單純追（zhuī）求價格便宜，很難保證質（zhì）量。對於x熒光分析儀（yí）這樣的設備來說，服務（wù）往往更為重要（yào）。這裏所說（shuō）的服務不僅指安裝調試備品（pǐn）備件供應維修服務等（děng），更（gèng）為重要的是（shì）應用技術服務。

誤區4：片麵追求準確度忽視精密度（dù）

不重視穩定性和重現性。準確性固然重要，精密（mì）度也決不可忽視，首（shǒu）先要關注的是精密（mì）度問題，也就是說，同（tóng）一（yī）樣（yàng）品多次測量，其結果應有良好的一（yī）致性，每一測量結果與（yǔ）均值的差要（yào）足夠小，至於測量值與真值的差，往往屬於係（xì）統誤差，是可以進行數學校（xiào）正的。

此外，還應（yīng）重（chóng）視儀器的穩（wěn）定性（xìng）和重現性。所謂穩定性（xìng）是（shì）指同一（yī）樣品連續測量多次(通常為21次（cì）)的標準（zhǔn）偏差；而重（chóng）現性則是（shì）同一樣品間隔較長時間後再次測量的結果間的一致性。這兩項（xiàng）指標也是x射線熒光分析儀器的重要指標（biāo），我們常說（shuō）的準（zhǔn）確測量必（bì）須是建立在穩定性和重複性基礎（chǔ）之上的。

誤區5：分析時間（jiān）越短越好

X射線測（cè）量（liàng）是隨機事（shì）件的統計測量，是由統計規律決定的，計數的絕對量取決於測量時間，並（bìng）直接決定（dìng）著測量誤差（chà）的大小，足夠長的測量時間（jiān）是測量精度的前提條件，為（wéi）了保證測量精度，必須有足（zú）夠的測量時間以（yǐ）及足夠的計數率。