利用光譜儀對純銅係列產品的雜質元素分析優化

純銅係列產（chǎn）品是我國生產的一大類產品，利用光電直讀光譜（pǔ）儀分析其雜質元素後，速度大大（dà）提高，定量分析（xī）更為準確（què），可（kě）分析元素也有（yǒu）所增（zēng）加。但隨著產（chǎn）品生產機製（zhì）的轉變，高附加值（zhí）產品的生產量（liàng）大批增加，不再局限於一些（xiē）常（cháng）規牌號，這些新產品雜質元素（sù）標準（zhǔn）高低各異，且某些元素標準範圍較窄，無（wú）法滿足各企業生產需要。為此，本文將試驗對純銅中雜質元素分析進行了改進，將其分為兩個程序，其中一個用（yòng）以分析（xī）高（gāo）含量雜質元素，另一個用以分析（xī）較高（gāo）含（hán）量雜質元素，使（shǐ）不同分析含（hán）量段的（de）元素都能得到準確分析。試驗結果證明，這一改進完全可行，且已投入使用（yòng）。

一、儀器及工（gōng）作條件

1、儀器：SPECTROLAB S 光電直讀光譜儀（yí）

2、氬氣淨化器

3、室溫：18~28℃

4、工作（zuò）條件（表1）

二、實驗部分

1、樣（yàng）品選擇

（1）標樣：塊樣1

（2）標樣：塊樣2，用以拓展曲線，補充標（biāo）樣（yàng）含量的不足

（3）樣（yàng）品經加工製成光潔平麵待用

2、試驗步驟

（1）程序中（zhōng）選擇菜單，依次激發標樣、試樣

（2）在兩程序中分別設定分析元素（sù）工作範圍

（3）校正曲線（xiàn）

（4）設（shè）置標準化樣、類型（xíng）校準樣

（5）校對

三、結果與討論

1、分析元素工作範圍的設置

從表2、表3可看出，兩程序分（fèn）析元素工作範圍明（míng）顯不同，這（zhè）是因為設置時兼顧了各程序需分析牌號元素的標（biāo）準，再根據曲線上標樣及（jí）試（shì）樣（yàng）分（fèn）布情況（kuàng），由（yóu）所用曲線段高、低（dī）號樣品元素含量適當（dāng）延伸而定。

2、標準化

工作曲線做成之後（hòu），經過一段時間會變動，為了使用原工作曲線，必須進行標準化，為了保證純銅係列雜質元素的準確（què）分析，選擇了標準化樣，采用（yòng）兩點式校正。

3、幹擾元（yuán）素校正 

光電直讀（dú）分析中存在著（zhe）元素之（zhī）間的幹擾問題（tí），有平移（yí）幹擾和轉動幹擾兩種類型。純銅中雜質元素含量較低經試（shì）驗，元素間幹擾係（xì）數較小（xiǎo），可不予考慮。

4、校對

校對結果對照

取成份已知樣品校對，結果穩定準確（què），可以確保分析準確可靠。

四（sì）、結論（lùn）

純銅係列雜質元素（sù）分析改進後（hòu），準（zhǔn）確度更高，更方便於分析。