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手持式土壤分析光譜儀 德國斯派克

手持式土壤分析光譜（pǔ）儀 德國斯派克

手持式能量（liàng）色散型（xíng）X-射線熒光（EDXRF）光譜儀無需進行複雜的樣（yàng）品製備，對複雜基體的環境類樣本提供非常快速直接的元素測量和光譜化學成分（fèn）分析，SPECTROxSORT光譜儀（yí）可以在極（jí）短的（de）時間內達到（dào）非常低的檢測（cè）下限，因此在現場測試中可以快速提供實驗室等級的測試結果。
新品速遞 | 德國斯派（pài）克（kè）推出新一（yī）代 SPECTRO xSORT XHH04

新品（pǐn）速遞 | 德國斯派克推出新一代（dài） SPECTRO xSORT XHH04

新版SPECTROxSORT手持式熒（yíng）光（ED-XRF）光譜儀是德國斯派克分析儀器公司（sī）結合自身對行業應用的（de）透徹領悟和現場（chǎng）金屬測（cè）量領域的豐富經驗，厚積薄發打（dǎ）造的一款創（chuàng）新型（xíng）便（biàn）攜式熒光光譜分析儀。集一係列實用功能和創新設計為一身，在大幅提高用戶的分析速度、保證易用性和（hé）操作便利性（xìng）的同時，保持了德國製造的優異分析性能。
日立FT110A台式（shì）XRF鍍層測（cè）厚儀，鋅層測厚（hòu）儀

日立FT110A台式XRF鍍層（céng）測厚儀，鋅層（céng）測厚儀

FT110A是一款台式XRF分析儀，旨在應對生產中鍍層分析的挑（tiāo）戰。強大的X射（shè）線熒光技術與自動定位功能相結合（hé），有助於提高電鍍車（chē）間的生產力，同時確保組件符合嚴（yán）苛標準。
日立X-Strata920 鍍層測厚儀，台式XRF鍍層測厚儀

日立X-Strata920 鍍層測厚儀，台式XRF鍍（dù）層測厚儀

X-Strata920是一款高精度台式XRF鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容（róng）納多種類型的樣品。該分析儀非常（cháng）適合測量各種基材上的塗層，適合用於確定（dìng）產品質量（liàng）的電子產品、連接器、裝飾（shì）品（pǐn）和珠寶分析（xī）
日立EA1280 台式熒光光譜儀，XRF分（fèn）析儀

日立EA1280 台式熒光（guāng）光譜儀，XRF分析儀

EA1280是日立專為RoHS有害物質限製設計的XRF分析儀，15年來一直受到（dào）信任，為需要遵守本指令的企業提供一致的結果。通過對有（yǒu）害物質的簡單快速的測量，您可以確保能夠滿足環境法規的要求（qiú）。為什麽選擇日立XRFRoHS分析儀?操作方便可自動采樣靈活（huó）校準以適應新的（de）RoHS標準自動突出顯示您正在分（fèn）析的內（nèi）容以獲得（dé）可瀏覽的結果快......
日立EA1000AIII 台式X射線熒光光譜（pǔ）儀，台式XRF熒光分析儀

日立EA1000AIII 台式X射線熒光光（guāng）譜儀，台（tái）式XRF熒光分析儀

EA1000AIII旨在加速和簡化生產環境中的RoHS測試。該分析儀有助於滿足當前的RoHS、EN71和無鹵素指令，並允許隨著指令的變化（huà）更新物（wù）質控製標準。
手持式XRF塗層測厚儀 德國斯派（pài）克

手持（chí）式XRF塗層測厚儀 德國斯派克

德國（guó）斯派（pài）克（kè）手持式塗（tú）層光譜儀（yí）應用（yòng）於包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化（huà）學處理膜層厚度測度（dù）；模（mó）具鋼、鎢鋼等材料表麵（miàn）釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層（céng）或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測試。
偏（piān）振能量色散X熒光分析儀 OCUBE ED-XRF

偏振能（néng）量色散X熒（yíng）光分析儀 OCUBE ED-XRF

CUBE型ED-XRF分析儀（yí）為各種應用提（tí）供簡單、可靠、準確、高（gāo）通量的分析同類產品中測試（shì）速（sù）度出（chū）類拔萃（cuì）：高速高精度，是典型測試（shì）速（sù）度的兩倍應用範圍廣和準（zhǔn）確度高：優化的應用程（chéng）序包簡單易用（yòng）：隻需三個簡單步驟即可獲得準確的結果。
小型台式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀

小型台式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀

小台式（shì）X射線熒光光（guāng）譜儀 RoHS分析（xī）儀選配的樣品測試（shì）吊艙可將儀器轉化為台式EDXRF，在保障任何樣品測試輻射安全的同時，極（jí）大（dà）的提升設備（bèi）對極微小樣品測試能力並取得更低的檢測（cè）下（xià）限。
手持式XRF塗層測厚儀 便攜式XRF塗層測厚儀

手持式XRF塗層測厚儀 便攜式XRF塗層測厚儀

用途：1.塗層測（cè）厚，包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化學處理（lǐ）膜層厚度測試（shì）   2.模具鋼、鎢鋼等材料表麵釩（fán）(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬（shǔ）鍍（dù）層（céng）膜厚測試。
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