日（rì）立X-Strata920 鍍層測（cè）厚儀，台（tái）式XRF鍍層測厚儀

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容納（nà）多種類型的樣品。該（gāi）分（fèn）析儀非常適合測量各種基材上（shàng）的塗層，適合用於確定產品質量的電子產品、連接（jiē）器、裝飾品和珠寶分（fèn）析。

X-Strata920 的優勢在（zài）於其多功（gōng）能性。您可以（yǐ）從多種配置（zhì）中進行選擇，包括五（wǔ）種基本配置以適應不同尺寸的樣品（pǐn）、六種準直器尺寸用於優（yōu）化分析不同（tóng）尺寸的特征，以及有助於（yú）加快測量過程同時保持準確性的附加自動化功能。X-Strata920 易於使用（yòng），軟件直觀，可由非專業人員操作，並可輕鬆融入您的生產（chǎn）或質量（liàng）保證部門。

最大化精度，最小化浪費

當決定產品成敗的差異小於1微米時，請（qǐng）選擇X-Strata920進行精（jīng）確鍍層分析

如果您在電（diàn）子產品或金屬表麵處理行業工作，我們可提供適（shì）於您業務的解（jiě）決方案。X-Strata920具有多種配置選（xuǎn）擇，可分析單鍍層和多鍍（dù）層（包（bāo）括合金層）。

我們的內部專家會對常規和（hé）複雜鍍（dù）層（céng）結構進行測（cè）試及測量，確保您（nín）獲得可靠、可（kě）重複結（jié）果以滿足數百種（zhǒng）應（yīng）用，包（bāo）括：PCB表麵處理、連接器鍍層（céng）、耐腐蝕處理、裝飾表麵處理、耐磨損處理、耐高溫性等。

X-Stata920提供四種基台配置以（yǐ）適應任意形狀的零件。帶有（yǒu）標準或寬固定基台的（de）開槽的樣品艙適合處理小型零件或長而薄的樣品，而加深樣品艙則可靈活測量較高的零件。選擇程控樣品台（tái），可自動測量（liàng）多個樣品或單個組件上的各個位置。

為工作（zuò）選擇正確的工具

通過選擇（zé）比例計數器或矽漂移探測器（SDD），可確保擁有（yǒu）正確配置（zhì）。

比例計數器適用於大多數應用場合，但對於含有少量種類元素的簡單鍍層結構而言，其效果最佳。當您需要分析更（gèng）複雜的鍍（dù）層結構或（huò）需要測量非常薄的（de）鍍層（<0.05μm）時，推薦使（shǐ）用（yòng）SDD。

X-Strata920 這一出色的工具可（kě）確保樣品符（fú）合規格，同時通過避免過度電鍍造（zào）成的化學品浪費和減少電（diàn）鍍不足（zú）造成的廢料（liào）和返工來降低成本。操作員隻需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結果在幾秒內即

可顯（xiǎn）示出來，然後操作員可快速執行下一個任務。

這意味著您可確保在操作中（zhōng）最大限度地提高生產力。得益於通（tōng）過可追溯標準打造的優（yōu）化校準方式，您將對結果的準確性充（chōng）滿（mǎn）信心。

使用X-Strata920可遵從各種行業標（biāo）準，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。

產品亮點

X-Strata920 具有多種選項和多功（gōng）能性，可容納各種樣（yàng）品，每次都能提供（gòng）精確的分析。

• 適應性設計，可對各種（zhǒng）產品進行可靠分析（xī）

• 自（zì）動對焦和可選的程控（kòng）台提高了準確性和速度

• 直（zhí）觀的 SmartLink 軟件使測量和導出數（shù）據變得容易（yì）

• 多準直器設計為每個樣（yàng）品提供高準確性

• 選（xuǎn）擇（zé）適合應用的比例計數器（qì）或矽漂移檢測器 (SDD)

• 符合行業規範，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡單（dān）的（de）樣品加載和快（kuài）速分析可在幾秒鍾內提供結果（guǒ）

• 強大的光學分（fèn）析單（dān）層和多層鍍層（céng），包括合金層