擺（bǎi）脫傳統分析繁瑣！日本理學（xué）光譜儀（yí）快速分析（xī）硫化礦

X射線熒光光譜分析技術(XRF)是利（lì）用X 射線（xiàn）與物質產（chǎn）生（shēng）的X射線熒光而進行的元素分析（xī）方法 ，采用探測器檢測特征X射線熒光的能量（liàng）和強度 ， 從而實現定性和定量分析。X射線熒光（guāng）光譜分析具（jù）有快速、多元（yuán）素分析、製樣（yàng）簡單、重現性好、準確（què）度高、非（fēi）破壞性和對環境無汙染等特點 ， 被廣泛應用於多領域的樣品分析。硫化（huà）銅礦石作為國家戰略礦石之一，對其快速準確分（fèn）析在開發利用方麵具有重要意義（yì）。

目前，礦物、礦石（shí）樣品傳統分析周期長，操（cāo）作繁瑣，不適合日常快速分析的要求。開發了（le）X射線熒光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法， 實驗采（cǎi）用玻璃熔融法（fǎ）製備硫化銅礦樣（yàng）品，在600℃下預氧化20min，使低（dī）價態的硫轉（zhuǎn）變為硫酸鹽，不僅避免了鉑金坩堝被腐（fǔ）蝕， 而且可以更好的（de）測定以Cu和S為主的主量元素的含量（liàng）。該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領域的拓（tuò）展提（tí）供了一套可借鑒的分析程序， 有一定（dìng）的實際應用價值。隨著（zhe）分析技術（shù）由整體分析向微區分析發展，地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發展，岩（yán）礦的分析研究已經由宏觀深入到更微（wēi）觀的領域。

波長色散X射線熒光光譜儀

目前實驗室（shì）常規使用的微區分析技術包括電子探針、激光燒（shāo）蝕等離子體質譜（pǔ）和各類電子顯微鏡（jìng）等。微區X射線熒光光譜分析（xī）(Micro-XRF) 技（jì）術作為（wéi）一種基於普通X射線熒光的無損（sǔn）分析技（jì）術 ，是X射線（xiàn）光譜（pǔ）學領域的重要分支， 可實現微米級微小區域內樣品中多元素定性或定量分析，成（chéng）為獲取樣品微區結構元素空間線掃描、麵掃描分布（bù）及時序性信息的有力（lì）工具。使用了台式能量色散X 射線熒光儀，對氧化（huà）物組合標樣和（hé）礦物光片點掃描， 對31個礦物光片和（hé）塗有（yǒu）防曬霜的指紋（wén）樣品進行麵掃（sǎo）描，5個（gè）金屬薄膜片點掃描。當樣品與聚（jù）焦點距離變化在（zài） -20μm ～20μm時（shí），激發（fā）出的 Fe、Cu、 Zn、S的強度值（zhí）最大。

X射線熒光光譜分析測定金屬膜層的厚度，其測量值與實際值偏差不（bú）大。該儀器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像，在玻（bō）璃基底上獲取的指紋紋理更清晰。微區X射線（xiàn）熒光光譜無損分析可（kě）得到類似（sì）切割板的（de）多元素分布（bù）圖， 是分析（xī）元素分布規律的一種較快的方法，能快速（sù）測出金屬膜層的厚度，高效率提取指紋。

通（tōng）過蘭坪盆地鉛鋅銅多（duō）金屬成礦區帶典型礦山地區1:50000地質調查，采集雲龍縣的山坡、林地、草地等的土壤樣品400多件（jiàn），用波長色散 能量色散複（fù）合型X射線熒光光譜儀測量（liàng）土壤重金屬含量。得到（dào）土壤中重金屬元素的平均值、中位值等，發現Zn和Pb 元素（sù）含量的最（zuì）大值（zhí）點在同一位置點，在（zài）河庫旁幹涸處（chù）草（cǎo）地。Cu、Pb、Zn 、 As、Sb、Cd元素含量最大值的（de）采樣點均在水流附近， 其中Cd 元（yuán）素的最大（dà）值點位於沘江附近，Cu、Pb、Zn、 As 、Sb、Cd等元素（sù）可能通過水流遷移。通（tōng）過研究采（cǎi）礦區不同類型土壤表層中重元（yuán）素（sù）的含（hán）量和分布特征， 為調查礦區及（jí）周邊水文地質條件、礦山（shān）開（kāi）采帶來的主要環境地質（zhì）問題提供依據。